Sistemas de ensayo de semiconductores
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Sistemas de prueba de semiconductores de envejecimiento láser LDBI Sistema de prueba multicanal
Precio: Negotiable
MOQ: 1 unit
El tiempo de entrega: 2-8 weeks
Marca: PRECISE INSTRUMENT
Destacar:Sistemas de ensayo de semiconductores de envejecimiento láser, Sistemas de ensayo de semiconductores LDBI, Analisador de dispositivos de alimentación multicanal
Sistemas de prueba de semiconductores de envejecimiento láser LDBI Sistema de prueba multicanal
LDBI multi-channel high-power laser aging system is specifically designed to address the issues of kilowatt-level high-power semiconductor laser chips and pump laser modules that require narrow pulse high... Ver más
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Sistemas de ensayo de semiconductores de 1200V/100A para el análisis de parámetros de semiconductores SPA6100
Precio: Negotiable
MOQ: 1 unit
El tiempo de entrega: 2-8 weeks
Marca: PRECISE INSTRUMENT
Destacar:Analista de parámetros de semiconductores de 1200 V/100 A, Sistemas de ensayo de semiconductores SPA6100, Analisador de parámetros de semiconductores SPA6100
Sistemas de ensayo de semiconductores de 1200V/100A para el análisis de parámetros de semiconductores SPA6100
El analizador de parámetros de semiconductores SPA6100 ofrece ventajas que incluyen alta precisión, amplio rango de medición, rápida flexibilidad y una fuerte compatibilidad.Este producto ad... Ver más
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Prueba estática del analizador de dispositivos de potencia de 10kV/6000A PMST para Mosfet BJT IGBT SiC GaN Semiconductor
Precio: Negotiable
MOQ: 1 unit
El tiempo de entrega: 2-8 weeks
Marca: PRECISE INSTRUMENT
Destacar:Analista de dispositivos de potencia de 10 kV/6000A, Prueba estática del analizador PMST, BJT IGBT analizador de dispositivos de alimentación
Prueba estática del analizador de dispositivos de potencia de 10kV/6000A PMST para semiconductores MOSFET BJT IGBT y SiC GaN
El sistema de prueba de parámetros estáticos PMST para dispositivos de potencia integra múltiples funciones de medición y análisis, lo que permite pruebas precisas de pa... Ver más
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Sistema de ensayo C-V para dispositivos semiconductores de 10 Hz a 1 MHz
Precio: Negotiable
MOQ: 1 unit
El tiempo de entrega: 2-8 weeks
Marca: PRECISE INSTRUMENT
Destacar:Dispositivo de alimentación de semiconductores de 1 MHz, Dispositivo de alimentación de semiconductores de 10 Hz, Sistema de caracterización de semiconductores C-V
Sistema de ensayo C-V para dispositivos semiconductores de 10 Hz a 1 MHz
La medición de tensión de la capacidad (C-V) se utiliza ampliamente para caracterizar los parámetros de los semiconductores, particularmente en los condensadores MOS (MOS CAP) y las estructuras MOSFET.La capacidad de una estruc... Ver más
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Sistema de ensayo de sensores de corriente de 1000A CTMS Equipo de ensayo de semiconductores
Precio: Negotiable
MOQ: 1 unit
El tiempo de entrega: 2-8 weeks
Marca: PRECISE INSTRUMENT
Destacar:Sistema de ensayo del sensor de corriente de 1000A, Equipo de ensayo de semiconductores del CTMS, 1000A CTMS Pruebas de semiconductores
Sistema de ensayo de sensores de corriente de 1000A CTMS Equipo de ensayo de semiconductores
El sistema de ensayo CTMS integra una variedad de funciones de medición y análisis y puede medir con precisión los parámetros estáticos y dinámicos de varios sensores de corriente (sensores de corriente de H... Ver más
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